斯坦福-比奈智商测验

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              斯坦福-比奈智商测验

              斯坦福-比奈智商测验是关于智商测量的方法，由美国斯坦福大学教授研究公布，历经了5次修订。由于测验的标准差为16，在此测验中要确保是"高智商"的最低得分为132。
              1916年美国斯坦福大学L.M.特曼对比奈-西蒙量表所作的修订版。该修订本不但对每个测题的实施程序及评分方法作出了详细的说明和规定，而且把智商概念运用到智力测验中，使智力分数能在不同年龄间比较，从而进一步发展和完善了比奈以智龄评定智力的方法。1937年发表了第二个修订本，其中有两套等值的测验，即L型和M型。
              1960年在第三次修订中又将两个等值测验合并成一套，称L-M型。该量表将以前的比率智商换成了以均数为100， 标准差为16的离差智商。1972年发表修订后的常模。作者认为新的常模比1937年的常模更能反映时代文化发展的影响。1986年公布第四次修订版。量表共包含15个分测验，可以评定4个认知领域，即言语推理、抽象/视觉推理、数量推理和短时记忆。
              智商（IQ），是一种数量化的、对智力的标准测量。有两种个体施测的IQ测验至今还在广泛应用：斯坦福-比奈（Stanford-Binet）测验和韦克斯勒（Wechsler）测验。 斯坦福-比奈量表智商分布：140以上为非常优秀（天才）；120-139为优秀；110-119为中上、聪慧；90-109为中等；80-89为中下；70-79为临界智能不足；69以下为智力缺陷。